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產(chǎn)品展示

歐規(guī)接觸法直探頭

應(yīng)用

用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷

鍛件、鑄件

金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

板材、棒材、方形材

容器、機(jī)器零件、殼體

特點(diǎn)

縱波單晶探頭

適合DGS缺陷評判

性能參數(shù)誤差小,適合高精度檢測

可更換保護(hù)膜,保護(hù)探頭不被磨損

柔性保護(hù)膜,即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合

合金壓鑄殼體,堅固耐用

用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊(定制產(chǎn)品)

B..S系列

A=30mm

B=59mm

C=45mm

D=29mm


系列

型號

頻率

(MHZ)

接口方向

帶寬

晶片直徑

接口類型

保護(hù)膜

BS

B1S-EN

1

側(cè)裝

25

24mm

Lemo 01

ES45

B1S

1

B2S

2

B2.25SE

2.25

B4S

4

B5S

5

B1S-O

1

頂裝

B2S-O

2

B4S-O

4

B5S-O

5


MB..S系列

A=20mm

B=43mm

C=25mm

D=15mm

系列

型號

頻率(MHZ)

接口方向

帶寬

晶片直徑

接口類型

保護(hù)膜

MBS

MB1S

1

側(cè)裝

25

10mm

Lemo 00

ES24

MB2S

2

MB2S-EN

2

MB4S

4

MB4S-EN

4

MB5S

5

MB6S

6

MB2S-O

2

頂裝

MB4S-O

4

MB5S-O

5

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