特點
持久耐磨的工作面
與金屬匹配良好
比保護膜探頭有更高增益余量
應用
用于檢測結構簡單的金屬零件如大型鍛件、鑄件、坯料
小款探頭用于管材、板材、棒材、儲罐、小型鍛件
疊層、分層結構、粘接檢測
大型部件和難于穿透的材料檢測
B…F系列
A=31 B=15
晶片直徑20mm,帶寬60,側裝LEMO 00接口
型號 |
頻率 |
近場距離 |
B 1 F |
1MHz |
16mm |
B 2 F |
2MHz |
31mm |
B 4 F |
4MHz |
62mm |
B 5 F |
5MHz |
76mm |
MB…F系列
晶片直徑10mm,帶寬60,側裝LEMO 00接口
型號 |
頻率 |
近場距離 |
MB2F |
2MHz |
8mm |
MB4F |
4MHz |
16mm |
MB4F-EN |
4MHz |
16mm |
MB5F |
5MHz |
19mm |
MB10F |
10MHz |
32mm |
K…G系列
晶片直徑24mm,帶寬40-80,側裝LEMO00接口
型號 |
頻率 |
近場距離 |
K1G |
1MHz |
23mm |
K2G |
2MHz |
45mm |
K2G-EN |
2MHz |
45mm |
K4G |
4MHz |
88mm |
K4G-EN |
4MHz |
88mm |
K…N系列
A=15B=31 C=26
晶片直徑10mm,帶寬40-80,側裝LEMO00接口
型號 |
頻率 |
近場距離 |
K1N |
1MHz |
4mm |
K2N |
2MHz |
8mm |
K4N |
4MHz |
16mm |
K5N |
5MHz |
20mm |
K6N |
6MHz |
|
G…N系列
A=30B=37 C=40
晶片直徑24mm,帶寬>80,側裝LEMO00接口
型號 |
頻率 |
近場距離 |
G1N-F |
1MHz |
23mm |
G2N-F |
2MHz |
45mm |
G4N-F |
4MHz |
88mm |
G…KB系列
晶片直徑10mm,帶寬40-65,側裝Microdot接口
G2KB頻率2MHz,晶片直徑10mm,近場距離8mm
G5KB頻率5MHz,晶片直徑10mm,近場距離20mm
K…K系列
晶片直徑5mm,帶寬>80,側裝Microdot接口
型號 |
頻率 |
近場距離 |
K2K |
2MHz |
|
K5K |
5MHz |
5 |
K5K-EN |
5MHz |
5 |
K10K |
10MHz |
10 |
K10K-EN |
10MHz |
10 |
G…K系列
A=11B=17
G5K頻率5MHz,晶片直徑5mm,近場距離5mm,帶寬>80,側裝Microdot接口
G10K頻率10MHz,晶片直徑10mm,近場距離5mm,帶寬>80,側裝Microdot接口